半導体評価・解析ソリューション

特性評価・環境試験・故障解析・効率化における課題を解決

DRAM、SRAM、ASIC、システムLSI、アナログロジックなどの半導体デバイスに関する評価・解析サービス、作業効率化のための各種ツールをを提供し、試作品の動作確認から、量産品の品質向上、歩留まり改善を支援します。

テスタアウトプットのDRAM不良セルを、物理アドレスの絵にしてPC上に表示します。
手作業によるミスを軽減し、不良解析をスピーディーに行えます。その他にも手廃りモード操作、特定プログラム自動生成等の機能も搭載しています。

テスタプログラムパターンを波形化して、信号タイミングチェック等を効率化いたします。

PCからオシロスコープの動作をを制御し、波形測定業務を効率化いたします。