ソリューションサービス
DRAM、SRAM、ASIC、システムLSI、アナログロジックなどの半導体デバイスに関する評価・解析サービス、作業効率化のための各種ツールをを提供し、試作品の動作確認から、量産品の品質向上、歩留まり改善を支援します。
テスタアウトプットのDRAM不良セルを、物理アドレスの絵にしてPC上に表示します。
手作業によるミスを軽減し、不良解析をスピーディーに行えます。その他にも手廃りモード操作、特定プログラム自動生成等の機能も搭載しています。
テスタプログラムパターンを波形化して、信号タイミングチェック等を効率化いたします。
PCからオシロスコープの動作をを制御し、波形測定業務を効率化いたします。
測定項目の自動設定、結果判定
報告書背泳画像ファイル作成
結果内容エクセル出力 等
30年にわたる実績のある技術的なフレームワークと専門知識をもった技術者によるサポート
評価コラボレーション&各種支援ツール開発による小回りのきく トータルサポート。「短納期対応」「スループット向上」
CloudTesting Service™ 製ツール(CX1000P/D)を活用するプログラム仕様からプログラム作成、選別、評価・解析までトータルサポートを実現します。
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